電氣長(zhǎng)度<1mm，射頻性能極佳 | QFN，QFP，BGA多種封裝 |
>0.4mm 引腳間距 | 支持3000+引腳產(chǎn)品 |
出色的接觸電阻和電流承受能力 | 三溫測(cè)試能力(-40℃-150℃) |
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高頻、高速性能優(yōu)越
適用于QFN，QFP，BGA封裝類型
適用于手測(cè)，機(jī)測(cè)，老化等多種測(cè)試方式
一次測(cè)試良率高，測(cè)試性價(jià)比高
電氣長(zhǎng)度<1mm，射頻性能極佳 | QFN，QFP，BGA多種封裝 |
>0.4mm 引腳間距 | 支持3000+引腳產(chǎn)品 |
出色的接觸電阻和電流承受能力 | 三溫測(cè)試能力(-40℃-150℃) |
引腳封裝：QFP，BGA,其他0.4mm及以上引腳間距
無(wú)引腳封裝：QFN，其他0.4mm及以上引腳間距
Socket材料：Vespel SP-1，Plavis-N，MDS-100
產(chǎn)品引腳間距：0.4mm
橡膠彈力：12g-45g
測(cè)試行程：0.1mm-0.25mm
使用壽命：150K-250K
測(cè)試插座使用壽命：>3KK
清潔頻率：100K
接觸電阻：50mΩ
電流承載能力：3A持續(xù)電流
頻寬：>50GHZ@-1db
電感：0.056nH
溫度范圍：-40℃-150℃